近日，基于美國國度儀器(National Instruments，以下簡稱“NI”) 的PXI源丈量單位 (SMU)，專注應(yīng)用人工智能驅(qū)動半導(dǎo)體測試丈量的北京博達微科技無限公司 (簡稱“博達微”) 宣告推出最新基于機械進修的半導(dǎo)體參數(shù)化測試產(chǎn)物FS-Pro，真正將IV測試、CV測試、低頻噪聲 (1/f noise) 測試等經(jīng)常使用低頻特征丈量集成于一體，完成在單臺儀器內(nèi)完成一切測試的需求，并將測試速度晉升10倍，在低頻噪聲測試中將本來須要幾十秒的測試時光延長至5秒之內(nèi)。
現(xiàn)現(xiàn)在，因為IoT成長迅猛，芯片量呈幾何倍數(shù)增加，摩爾定律已逐步不再實用，正如早先宣布的《NI Trend Watch 2018》引見，雖然摩爾定律的實用性再次遭到威逼，但以機械進修、主動駕駛為首的市場需求將連續(xù)擴大處置才能和I/O帶寬，為推進架構(gòu)立異供給新的機會。是以，為打破傳統(tǒng)儀器固有的局限而生，加倍面向?qū)淼闹悄軠y試計劃同樣成為半導(dǎo)體測試家當(dāng)精進確當(dāng)務(wù)之急，而NI恰是經(jīng)由過程本身模塊化硬件的靈巧性，連續(xù)助力家當(dāng)進階。NI亞太區(qū)副總裁ChandranNair表現(xiàn)：“我們關(guān)于博達微科技應(yīng)用 NI 最新 SMU 開辟出的智能參數(shù)測試計劃 FS-Pro 印象深入，透過博達微科技與 NI 硬件所到達優(yōu)良的準(zhǔn)確性與測試速度信任異常合適運用于參數(shù)研討與量產(chǎn)測試上?！?/p>
集成高精度+高速+高通道數(shù)的NI SMU，助力AI算法企業(yè)成為半導(dǎo)體測試新權(quán)勢
現(xiàn)實上，這曾經(jīng)不是NI和博達微的第一次協(xié)作，2017歲首年月博達微就宣布了基于機械進修的第一代半導(dǎo)體參數(shù)化測試產(chǎn)物FS系列，基于NI模塊化的硬件，在測試精度和敏銳度上做了兩個數(shù)目級的晉升。博達微CEO李嚴(yán)峰在NIDays2017現(xiàn)場也婉言，“從一個一年多前和測試‘絕緣’的軟件和算法公司，到以后產(chǎn)出的市場反應(yīng)度很不錯的參數(shù)化測試裝備，個中許多都源于NI模塊化硬件平臺的靈巧性，便利我們疾速安排算法，疾速安排專家經(jīng)歷到測試體系中。” 博達微在半導(dǎo)體參數(shù)測試頂用到的NI硬件平臺恰是其SMU。
以高達10fA的電流敏銳度履行高精度丈量，在高測試速度下兼具的低噪聲丈量機能，和賡續(xù)沖破的通道數(shù)，都是NI SMU在主動化測試和試驗室特征剖析范疇獲得普遍運用的緣由。另外，NI SMU玲瓏的構(gòu)成構(gòu)造和模塊化特征使其成為并行IV測試體系主要儀器，模塊化PXI平臺更可以或許贊助客戶經(jīng)由過程PXI背板觸發(fā)SMU，以同步與其他儀器的丈量，包含高速數(shù)字I/O儀器、射頻剖析儀、產(chǎn)生器、高速數(shù)字化儀。
圖1. NI 推出全新24通道高密度、高精度SMU——PXIe-4163
基于NI模塊化硬件讓AI運用周全化，加快半導(dǎo)體參數(shù)測試是其一
應(yīng)用機械取代人類完成認知、剖析、決議計劃等功效的AI，正在經(jīng)由過程盤算力、算法、數(shù)據(jù)量與運用場景等重要驅(qū)動動力加快迸發(fā)，而AI家當(dāng)?shù)内A家勢必是那些可以或許疾速處理實體經(jīng)濟成績、晉升行業(yè)效力，乃至是推翻傳統(tǒng)貿(mào)易形式的公司。
基于以靈巧著稱的NI模塊化硬件，博達微算法團隊將本身十年來應(yīng)用算法處置集成電路工藝浮動仿真困難積聚的“行動猜測”、“噪聲去除”等一系列技巧算法原型，敏捷“復(fù)制”到半導(dǎo)體測試范疇，使丈量沖破原有物理界限成為能夠，其參數(shù)化儀器一經(jīng)推出就敏捷取得市場承認。而應(yīng)用人工智能（AI）驅(qū)動測試的貿(mào)易價值就是更快，據(jù)悉博達微曾經(jīng)可以到達最多至10倍的效力晉升；更穩(wěn)固，經(jīng)由過程行動預(yù)知削減誤操作和不須要的旌旗燈號；更智能，經(jīng)由過程機械進修的智能安排讓測試儀用具備越測越快的機能晉升?！癋S-Pro是業(yè)界初次把IV，CV和噪聲測試集成到單臺裝備中，無需換線客戶便可完成簡直全體低頻參數(shù)化表征，并將測試速度晉升10倍。同時，基于NI供給的模塊化架構(gòu)，用戶可以靈巧擴大，從四通道到近百個通道，” 李嚴(yán)峰強調(diào)道。
圖2. 基于NI SMU，博達微推出業(yè)界首個進修算法驅(qū)動的高精度半導(dǎo)體參數(shù)一體化測試體系FS-Pro
從連續(xù)推出更高通道數(shù)的SMU，在統(tǒng)籌半導(dǎo)體測試機能的同時連續(xù)贊助客戶下降測試本錢和時光便可以看出NI在半導(dǎo)體測試范疇的長線投入。Chandran Nair強調(diào)：“NI將來在技巧與市場方面將會自始自終的年夜力支撐博達微，連續(xù)為半導(dǎo)體范疇的客戶供給更疾速、更穩(wěn)固、更智能的參數(shù)化測試計劃。”
